多個(gè)波疊加時(shí)，每一波相位波加強(qiáng)的部分中相互匹配，其中，通過利用破壞性在相位反轉(zhuǎn)的部分，波長（頻率）和測量相位差的技術(shù)。利用此原理的設(shè)備主要稱為干涉儀。
光學(xué)干涉儀是一種利用光的干涉現(xiàn)象來測量長度、厚度、折射率等物理量的儀器。它的工作原理是利用光的波動(dòng)性和干涉現(xiàn)象，通過比較光程差來測量被測量體的長度或厚度等物理量。
光學(xué)干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調(diào)節(jié)器和檢測器。在工作時(shí)，光源發(fā)出的光線經(jīng)過分束器分成兩束光線，經(jīng)反射鏡反射后再匯合。當(dāng)兩束光線匯合后，由于光的波動(dòng)性，它們會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，形成干涉圖樣，通過觀察干涉條紋的形態(tài)和移動(dòng)情況，可以計(jì)算出被測物體的長度或厚度等物理量。
光學(xué)干涉儀的應(yīng)用非常廣泛，比如在工業(yè)生產(chǎn)中用于測量機(jī)械零件的長度和厚度、在材料研究中用于測量材料的折射率和厚度、在生物醫(yī)學(xué)中用于測量細(xì)胞和組織的長度和厚度等等。
